특징
Acc. Voltage : 200 kV Electron Gun Emitter : ZrO/W(100) Schottky emitter Resolution: Point resolution in TEM mode- 0.23 nm Lattice resolution in TEM mode- 0.1 nm Lattice resolution in STEM mode- 0.2 nm
구성및성능
소재의 정성 정량분석 구조분석 표면관찰 등
Acceleration voltage : 200kV
Electron gun : FEG(ZrO/W(100) Schottky emitter)
Resolution : Point image : 2.3Å / Lattice image : 1.0Å(STEM : 2Å)
Minimum probe size/current : 0.5nm dia./ 0.5nA(1nm probe)
Aberation parameter : Cs = 1.0mm Cc = 1.4mm"
소재의 정성 정량분석 구조분석 표면관찰 등
◎ 표기된 요금은 부가세(10%) 미포함
◎ 해당 요금은 교외요금 기준으로 교내의뢰시 20% 감면
◎ 표시되지 않은 시료전처리, 재료비 및 분석결과의 특별한 해석을 의뢰할 경우에 별도로 요금을 산정함
◎ 직접사용 가능 기기는 교내외 교육 후 이용 가능
| 구분 | 항목 | 단위 | 외부 | 교내 | 기타 | 비고 |
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